产品特点:
恒平仪器 754紫外可见分光光度计
| 型号 | 752 |
| 带宽 | 4nm |
| 波长范围 | 200~1000nm(步进间隔0.1nm) |
| 波长准确度 | ±2.0nm(开机自动校准) |
| 波长重现性 | 1.0nm |
| 测定范围 | T:0~125.0%T A:-0.097~2.70Abs F:0~1999 C:0~1999 |
| 透射比准确度 | ± 0.5%T (0~100%T) |
| 透射比重现性 | 0.2%T |
| 亮电流 | ≤0.5%T |
| 暗电流 | ≤0.2%T |
| 杂散光 | ≤0.5%T(在220,340nm处) |
| 型号 | 754 |
| 带宽 | 4nm |
| 波长范围 | 190~1100nm(步进间隔0.1nm) |
| 波长准确度 | ±1.0nm(开机自动校准) |
| 波长重现性 | 0.5nm |
| 测定范围 | T:-0.1~200.0%T A:-0.5~3.000Abs F:0~9999 C:0~9999 |
| 透射比准确度 | ± 0.5%T |
| 透射比重现性 | 0.2%T |
| 亮电流 | ≤0.5%T |
| 暗电流 | ≤0.2%T |
| 杂散光 | ≤0.3%T(在220,340nm处) |
| 稳定性 | ±0.002A/h |
| 恒平仪器 754紫外可见分光光度计 留 言 | ||||||||||||||||||
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